Deep Silicon Etching (DRIE) – Hochaspektverhältnis-Strukturen mit maximaler Präzision
200 mm
Mit unserem DRIE-(Deep Reactive Ion Etching)-Prozess erzeugen wir extrem tiefe, anisotrope Siliziumstrukturen mit höchsten Aspektverhältnissen – ideal für MEMS, Sensortechnik, Aktortechnik, TSVs und komplexe Mikrosysteme.
Der bewährte Bosch-Prozess ermöglicht die Kombination aus hohen Ätzraten, steilen Seitenwänden und hervorragender Selektivität – selbst bei sehr kleinen Strukturbreiten oder großen Ätztiefen.
Technologie und Prinzip
Unser DRIE basiert auf einem zyklischen Plasmaätzprozess mit alternierenden Schritten:
- Siliziumätzung
- Seitenwandpassivierung durch Polymer
- Direktionales Entfernen von Material am Boden
Diese Wechselwirkung ermöglicht:
- Nahezu vertikale Profile
- Hohe Aspektverhältnisse von über 30:1
- Tiefen von mehreren hundert Mikrometern
- Reproduzierbare Ergebnisse auch bei komplexen Layouts