Substrate für organische Feldeffekttransistoren (OFET) zur Entwicklung von High-Tech-Materialien / 2024
Individuelle Silizium-Chips aus Sachsen zur Materialcharakterisierung für gedruckte Elektronik
Wie leistungsfähig sind neue Materialien? Führt eine Änderung der Eigenschaften zu einer besseren Leitfähigkeit? Am Fraunhofer-Institut für Photonische Mikrosysteme IPMS werden dafür ausgelegte Silizium-Substrate entwickelt und gefertigt. Damit wird die grundlegende elektrische Materialcharakterisierung, wie beispielsweise einer neuartigen Graphen-Emulsion, ermöglicht. Individuelle Designs erlauben die Messung sowohl halbleitender als auch leitfähiger Materialien.
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